温度冲击试验箱疑难杂症,光伏组件冷热冲击试

2019-09-10 15:42栏目:奥门新萄京娱乐场
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原标题:光伏组件冷热冲击试验箱

两箱式温度冲击试验箱分为高温室和低温室,其箱体结构设计采用独特的断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物完全静止,应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。在试验过程中我们也许会碰到试验箱提篮不工作,出现此类现象的原因是什么呢?

简介

1、温度冲击试验箱提蓝卡死,打开试验箱门,目测提篮是否有卡住现象;

系列光伏组件冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

2、气动电磁阀损坏,导致气缸气路无法切换,提篮只能停留在起始位置,气缸内部不密封;

用途

3、外部电源未供气或调压阀损坏;

用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

4、钢丝绳松动或断裂。

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两箱式温度冲击试验箱符合标准:

主要技术参数

GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温

奥门新萄京娱乐场 ,环境条件 环境温度为 5~ 28℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下(即空载时)

GB/T2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

测试方法 GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

GB/T10592-2008  高低温箱技术条件

规格型号 HE-LR-80S

GJB150.5A-2009  军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验

内箱容量 80升

GJB360A-1996方法107温度冲击试验的要求

内箱尺寸 宽500×高400×深400(MM)

GJB 360.7-1987 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验

外形尺寸 宽1500×高1850×深1500(MM)

文章来源:北京雅士林试验设备有限公司

设备总重量约 600Kg

使用电源 AC 三相 五线 380V 50HZ

总功率约 23KW

隔层架 2个(承重20kg)

高低温区温度范围 1.高温区部分:RT(常温)~ 180℃

2.低温区部分:RT(常温)~-65℃

温度测试范围 1.高温: 60℃~ 150℃

2.低温:-10℃~-40℃

高低温转换时间 ≤10S

高低温恢复时间 3~5min(非线性空载下)

解析度 ±0.1℃

控制精度 ±0.5℃

温度偏差 ±2.0℃

预热区升温速度 ≤30分钟

预冷区降温速度 ≤80分钟

温度暴露时间 高温区,低温区各30分钟

标准依据

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

  1. GJB150.3-86;

  2. GJB150.4-86;

  3. GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86温度冲击试验;

8、GJB360.7-87温度冲击试验;

9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;

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